方位錨定能測量裝置對于取向材料的研發是必不可少的，它可以在單個扭曲向列相液晶盒中高效、精確地控制取向層的方位和極向錨定能。
該裝置可進行扭曲向列相液晶盒中液晶扭曲角的自動測量及其方位錨定能的計算[V. A. Konovalov, A. A. Muravski, S. Ye.Yakovenko, J. Pelzl, An Accurate Spectral Method for Measuring Twist Angle of Twisted Cells with Rubbed and Grooved Surfaces, SID Symp. Dig. Tech. Pap. 31, 1, pp. 620-623 (2000)]。
主要技術特點
方位錨定能的自動測量
方位錨定能測量裝置軟件會自動執行一系列的計算機操作，包括液晶盒和光譜測量儀的樣品臺旋轉以及分析儀和光譜測量儀的旋轉。所有測量均在液晶樣品的選定區域內自動進行，無需人工干預。自動數據采集及其對液晶盒旋轉模型的計算機分析提供了液晶扭曲角φt的測定，并計算了方位錨定能常數Aφ。
測量參數*
*通過基于帶電氣控制的偏光顯微鏡MICRO-200Т-01（選項1）和高速光學輪廓儀（選項2）的方位錨定能測量裝置實現。
選項1 –電氣控制
極向錨定能的測量
方法A：反射與電壓（電光方式）
在扭曲向列相液晶盒中，在各種施加電壓下的預傾角測量用于確定極向錨定 [A. Murauski, V. Chigrinov, H-S. Kwok, New method for measuring polar anchoring energy of nematic liquid crystals, Liq. Cryst. 36 (8), 779-786 (2009)]。
方法B：延遲與電壓（電光方式）
將VA 液晶盒中各種施加電壓下的相位延遲測量用于極向錨定測定[X. Nie, Y.H. Lin, T.X. Wu, H.Wang, Z.Ge, S.T. Wu, Polar anchoring energy measurement of vertically aligned liquid-crystal cells, J. Appl. Phys. 98, 013516 (2005)]。
方法C：電容與電壓（電氣方式）
在ECB和VA 液晶盒中，在各種施加電壓下的同時測量電容，用于極向錨定測定[A. Murauski, V. Chigrinov, A.Murasky, F.S.-Y. Yeung, J. Ho, H-S. Kwok, Determination of liquid-crystal polar anchoring energy by electrical measurements, Phys. Rev. E 71, 061707 (2005)]. Polar anchoring coefficient can be defined without using the LC materials parameters (elastic and dielectric constants)。
額外的電氣特性
選項2 –高速光學輪廓儀
基于在透射或反射模式下的平行多通道干涉光譜測量，可以使用自動測量裝置，用于在玻璃或硅基板上厚度范圍從10 nm到20+μm的薄膜涂層的微米，亞微米和納米級厚度測量，加快數據分析和表面輪廓處理。
非常適合液晶透鏡，液晶透鏡陣列等的相位分布分析。
光學輪廓儀的附加特性
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